萬能試驗(yàn)機(jī)測控器件選擇時要針對設(shè)備性能進(jìn)行器件的選擇，同時還要考慮具體器件的性能指標(biāo)。元器件的性能、穩(wěn)定性及誤差是使用電子元器件進(jìn)行電路設(shè)計及軟件編程的基礎(chǔ)，而在系統(tǒng)設(shè)計時，元器件性能的好壞與穩(wěn)定性將直接影響到整個系統(tǒng)的性能和可靠性。在計算機(jī)測控系統(tǒng)中，因存在溫度零漂、滯后誤差、系統(tǒng)誤差、儀表誤差、測試誤差、隨機(jī)誤差等，所以必須通過標(biāo)定來修正各環(huán)節(jié)的實(shí)際參數(shù)。

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